专利名称：基于白光干涉的 VCSEL 外延片厚度均匀性检测方法
发明人：张鸿昌；张璞乐；吴家丽；宋殿品
拟转让单位：烟台产研鑫合新材料有限公司
拟转让金额：3万元
学校现同意上述专利（发明）成果转让，特此公示，公示期15天，如有异议请联系科技处科技成果转化管理科，联系人：王黛宁，电话：86390138。
科技处
2026年8月28日
专利名称：基于白光干涉的 VCSEL 外延片厚度均匀性检测方法
发明人：张鸿昌；张璞乐；吴家丽；宋殿品
拟转让单位：烟台产研鑫合新材料有限公司
拟转让金额：3万元
学校现同意上述专利（发明）成果转让，特此公示，公示期15天，如有异议请联系科技处科技成果转化管理科，联系人：王黛宁，电话：86390138。
科技处
2026年8月28日